产品名称:光纤光谱仪
产品型号:
产品品牌: Stellarnet
美国StellarNet光纤光谱仪
薄膜测试系统



提供完整的一套膜厚测试系统,可以对单层或多层的5nm-200um的快速测试。这套系统包含便携式光纤光谱仪,反射式探针和光源。通过样品正面反射的正弦条纹图得到反射和膜厚的光学特性,多种可选择模式满足不同的膜厚和光学需求。
ThinFilmCompanion系统特性:

实时光谱捕捉和仪器控制(反射和透射测试)
内置大量材料数据
支持多层,单层,粗超,厚膜和薄膜结构测试
 新材料数据可以轻松添加:实际测试和文件导入
 支持复合物材料测试:

     
准确性0.1Å or 0.01% (greater of)
精确性0.2% or 10A (greater of)
稳定性0.2A or 0.02% (greater of)
光斑直径3 mm standard, optional down to 3 µm
样品大小from 1 mm










 

System Range Resolution Thickness Lamp type
TF-VIS 400-1000nm<2nm150A-20umSL1 Halogen
TF-C-UVIS 190-850nm<2nm50A-20umSL3 Deuterium
TF-C-UVIS-SR 220-1100nm<2.5nm50A-20umSL1-F + SL3
TF-NIR 900-1700nm<5nm1000A-200umSL1 Halogen
TF-VIS-NIR 400-1700nm<2nm,5>1000nm150A-200umSL1 Halogen
TF-C-UVIS-SRN 200-1700nm<2nm,5>1000nm50A-200umSL4Hal+Deut












TF软件
采用用户友好界面软件可以快速测试膜厚和光学常数(n和k值),是复杂的测试变得简单化。这个软件内部包含大量的材料数据资料,使得的测试范围更广,多层膜,单层膜,粗糙的,薄膜,厚膜等都可以测试,并且新材料的数据也可以随时导入到软件中。
主要测试过程包含两部分:数据采集和数据分析。TF系统定义了所有测试过程,并且向用户开放,同时用户也可以此基础来存储数据和后续开发。


   
薄膜测量常用配置

1、便携式光纤光谱仪
   Blue系列-常规CT结构设计
   Black系列-凹面光栅设计
2、光源
   卤素灯、氘灯、氘-卤素灯
3、反射支架

   可以更改探头到样品的距离
4、薄膜标准样品
5、用户用好软件




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