产品名称:波前分析仪
产品型号: CLAS-2D
产品品牌: LUMETRICS
美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2D系列波前分析仪(CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™)能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数,例如波前倾斜,峰谷误差,均方根波前误差,像散,球差,聚焦误差/准直。

LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪,光束质量分析仪,自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数:300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。


波前分析仪产品特点:

CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。

波前分析仪应用范围:

· 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测
· 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测
· 红外、近红外探测
· 平行光管/望远镜系统的检测与装调
· 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域
· 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)
· 虹膜定位像差引导
· 大口径高精度光学元器件检测
· 激光通信领域
· 航空航天领域

 
 

波前分析仪CLAS-2DTM产品型号汇总

COMPLETE CLAS-XP System

型号81000-
00
81000-
46
81000-
47
81000-
48
81000-
49
81000-
50
焦距(mm)2.02.0474.758.1915.4825.08
灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200
动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ
透镜尺寸(mm)0.0720.0720.1080.1440.1980.252
透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29
 
COMPLETE CLAS-HP System


型号81000-
20
81000-
21
81000-
23
81000-
24
  
焦距(mm)4.987.7819.9229.62  
灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250  
动态范围211λ169λ105λ115λ  
透镜尺寸(mm)0.1120.1400.2240.280  
透镜阵列128*128102*10264*6451*51  
 
COMPLETE CLAS-Near IR 320 System


型号81000-
32
81000-
33
81000-
34
81000-
35
81000-
36
81000-
27
焦距(mm)25.6936.9911.4417.8725.749.3
灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50
动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ
透镜尺寸(mm)0.4000.4800.3200.4000.4800.225
透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56
 
                   
 CLAS-2D™       ClearWave Plus

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