物理影像系列:天文观测、X光成像、玻色-爱因斯坦凝聚、等离子体空间成像、激光全息、粒子影像测速、压力敏感成像、发光屏/器件图象获取、近红外图象采集、半导体器件质量检测;
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光谱分析系列:稳态/瞬态荧光光谱、发光特性分析、透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、CARS光谱、等离子体光谱、光致荧光光谱(PL)、激光诱导荧光光谱(LIF)、激光诱导解离光谱(LIBS)、微区/显微光谱、各类低温/变温光谱测量; |
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| 激光器系列:用作各种影像及光谱分析系统的激发光源(Nd:YAG, Dye, OPO, He-Cd, He-Ne, CO2, Ar+/Kr+, N2, Diode, Excimer)、激光微加工系统、激光雷达系统、激光参数测量仪器; |
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发光测量系列:各种发光参数(光度、色度、辐射度、亮度、发光强度、发光功率、激光功率)测量、积分球、标准光源、灯源测试系统、LED测试系统、反射/透射系数测试系统、反射标准板、各种材料和涂料;
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信号处理/分析系列:微弱信号处理仪器(锁相放大器、Boxcar门积分平均器、光子计数器、数字延迟脉冲发生器/时序控制器、低噪声前置放大器等)、高精度电子/测量仪器(FFT频谱分析仪、任意波形函数发生器、精密LCR测试仪、可编程带通滤波器、高压电源等)、真空测量仪器、时间频率基准、交流电桥、温度控制器、数字电压表等;
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材料分析测量系列:光谱/影像双模式扫描近场光学显微镜(SNOM)、光谱/影像双模式共焦Raman显微镜、大尺度原子力显微镜(AFM)、非制冷型焦平面红外热像仪;
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| 光电探测器/光电元器件:光电倍增管、X射线探测系统、光电二极管、各类滤光片、镜片、偏振片及透镜等光学器件; |
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工业成像器件:各种用于扫描成像的线阵CCD相机及芯片、TDI CCD相机及芯片、工业在线检测用CCD、X射线成像专用CCD、大尺寸工业级及航空航天级CCD芯片、CMOS相机及芯片、高速及高灵敏度CCD
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