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辐照度测量系统
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RAD-System 便携式辐照度系统由BLACK-Comet-CXR-50凹面光纤光谱仪组成，波长范围280-900nm；CR余弦校正器；F600-VISNIR光纤； IRRAD-CAL校准服务用来做绝对强度测量和 SpectraWiz光谱软件。
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薄膜测量系统
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StellarNet可提供低成本的薄膜测量系统。可检测多层结构，单层的，粗糙的，已经薄厚不均的样品。
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荧光测量系统
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化学分析系统
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Chem-System为用于吸收光谱测量，系统由BLACK-Comet-C-25凹面光栅光谱仪组成， SL5-CUV氘/卤钨光源， F1000-UVVIS-S-1光纤， SpectraWiz光谱软件。
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色度测量系统
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Color-System色度测量系统用于检测固体样品检测。系统由 BLACK-Comet-CXR-100光谱仪； SL1-Filter卤钨灯； R600-8-VisNIR反射式光纤；RS50标准白板；RPH探针支架和 SpectraWiz 光谱软件。
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激光诱导解离光谱 (LIBS)
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PORTA-LIBS-2000 Portable trace element analyzer with ND:Yag laser =>> Laser Induced Breakdown Spectroscopy. 此LIBS系统通过一台1064nm Nd:YAG 激光器（峰值功率达到MW量级）聚焦后打在目标物体上，以产生等离子体。等离子体束中被激活的原子会发射出与元素有关的特性光谱。光谱分辨率0.1nm，波长覆盖200-1100nm。
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双通道光谱分析系统
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Dual DSR-CXR-512（双探测器宽光谱） BLACK-Comet凹面光栅光谱仪结合 RED-Wave NIR 光谱仪， SL1-Filter 光源； F600-Y-VISNIR 光纤；侵入式探头用来测量280-2300nm宽光谱范围应用。
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