美国 Ophir-Spiricon
相关产品
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分光器
分光器将激光分成反射光和折射光两部分,适用于高功率激光的初次衰减。查看详情> -

激光全自动M2分析仪
BeamSquared 包含自动衰减器、束腰生成镜、反射镜和相机四大部分。精密准直的双程直线扫描光路提供在较短空间内的长行程快速扫描,配合不同的透镜、探测器覆盖宽范围的波段。查看详情> -

高功率激光集成式分析仪BeamWatch Integrated
BeamWatch Integrated 在BeamWatch 基础上,在特定位置集成了功率探头,可以实时在线测量激光的焦点分布和功率。BeamWatch Integrated 分为150/ 500连个型号,功率探头距离焦点的距离分别为150mm和175mm。查看详情> -

增材制造专用激光分析系统
BeamCheck 集成CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑,以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光,极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析,而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。查看详情> -

LBS-300衰减组合(分光+ 衰减)
组合式衰减器集成了分光器和可变中型密度滤光片,可直接旋接在相机上使用。查看详情> -

CCTV lens
超大的光斑既不能适用于CCD 相机直接探测,而大口径的缩束系统(望远镜)成本高、体积大、像差难以保证。将超大光斑入射到散射体上,再经过CCTV lens 成像于CCD芯片上,是一种便利的方法。查看详情> -

LBS-100组合式衰减器
LBS-100LBS-100 采用楔形分光镜和多片可选的中型密度滤光片搭配,实现大范围可切换的衰减倍率。查看详情> -

衰减器
可变衰减片采用两片渐变式中性密度滤光片,在衰减率可连续调节的同时,确保通光孔径内衰减率均匀分布。查看详情> -

LBS-400衰减组合(分光+ 衰减)
LBS-400衰减组合(分光+ 衰减)具备31.75mm 大口径。查看详情> -

扩/ 缩束器
可对激光光斑大小进行放大或缩小,以适应光束分析仪尺寸需要查看详情> -

胶体量子点相机
胶体量子点相机可以同时涵盖原本一台常规硅基加一台InGaAs材料的CCD/CMOS相机才能覆盖的光谱响应范围。查看详情> -

经济型光束分析软件BeamMic
BeamMic 为需要对激光器光斑有基础直观了解而无需复杂分析的用户而设计。查看详情> -

面阵激光光束分析仪
相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器,直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像,传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析仪是目前使用最多的光斑分析仪,可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光,可实时监控激光光斑的变化。查看详情> -

热释电阵列相机
Pyrocam 系列热释电阵列相机是Spiricon 研发的独特产品,13-355nm+ 1.06-3000μm 超宽波长覆盖使其可以适用于深紫外激光、红外~ THz光束分析。配合M2 软件及自动导轨,可实现这些波段的M2 测试。查看详情> -

焦点测量
激光聚焦的焦点通常具备很高的强度,需要很大的衰减幅度才能直接测量;而工作距离(最长不能超过焦距)的限制又使得无法引入大量的衰减片。OPHIR FSA 焦点测量附件用于直接测量高功率聚焦激光的焦斑,在紧凑的距离内提供10-10 的衰减率。查看详情> -

镀磷光材料CCD相机
硅材料CCD 相机的长波截止波长为1100nm (对于较强的光可响应至1300nm)。通过在芯片表面镀上转换磷光材料,能够探测光通讯广泛使用的1550nm 左右激光。查看详情> -

宽光束成像仪Wide Beam Imager
超大的光斑既不能适用于CCD 相机直接探测,而大口径的缩束系统(望远镜)成本高、体积大、像差难以保证。将超大光斑入射到散射体上,再经过CCTV lens 成像于CCD芯片上,是一种便利的方法。查看详情> -

紫外转换模块
针对深紫外激光器,例如266nm、213nm、193nm等激光器,建议使用紫外转换器,将紫外光转换成可见光探测。查看详情> -

光束分析软件BeamGage
Spiricon 专业光斑分析软件历经了LBA、Beamstar、BeamGage 三个阶段。每一个版本均继承了上一代精准的测试分析能力以及友好的用户截面,同时又随相机硬件技术、电脑硬件技术以及激光器的发展,不断提供更高的性能和更丰富的功能。查看详情> -

狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2
NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪, 源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪,在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案。查看详情>


















































































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