日本 Santec
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中红外扫频光源
Santec 中红外扫频光源提供3200nm ~3400nm 高速扫频功能，非常适合TDLAS 气体检测传感。查看详情> -
平衡探测器BPD-200
平衡探测器输出一个与两路光信号之间的差值有关的信号，是扫频OCT 的常规探测器，可避免激光器功率起伏导致的共模噪声。 Santec BPD-200 为OCT 专门设计，具备很低的背反射和平坦的平衡响应，可减轻不期望的伪图像。BPD-200 在检测两路位相相反的信号时灵敏度为3dB，可在大多数场合用在外差测量系统查看详情> -
通用型高分辨率空间光调制器SLM-200
SLM-200 为通用型高分辨率空间光调制器。查看详情> -
OCT 图形查看器OCT 3D Viewer
OCT 3D Viewer 为以3D 模式查看OCT 图像而专门设计。导入OCT 数据即可生成清晰而出众的图像。支持旋转，修剪，对比度调节等多种操作和设定，以实现图像优化。图形可做成动画并保存，生成令人惊叹的报告，展现3D 图形各方面特性在设置改变时的变化。查看详情> -
FMCW LiDAR-InnerVision
InnerVision FMCW LiDAR 采用高速扫频、单纵模1060nm 光源HSL-1。借助光源单纵模、超长相干距离的特性，可实现长距离3-D 形貌绘制查看详情> -
SLM-300高功率空间光调制器
SLM-300 为高功率型号，创下了承受 200W 高功率激光的纪录，比 SLM-200 高 100 倍。查看详情> -
3D OCT 分析软件Multi Slice Viewer
Multi Slice Viewer 提供OCT 3D 数据（IVS 系列原始数据）的进一步分析功能。对所有X-Y-Z 平面数据的同步分析可提供对图像数据的更好理解。这一强大的工具可协助从数据集中提取细节信息，以及对3D 内容的定量分析。查看详情> -
3-D 形貌仪OPS-1000
OPS-1000 系列扫频式相干成像的3-D 形貌仪整合了快扫描可调谐激光技术、干涉计量技术，提供单光束、高灵敏度、非接触的光学方法形貌测量。OPS-1000 可为各种类型形状、材质、颜色及表面形状的物体提供高速、高精度、无接触的形貌测量功能。查看详情> -
灵活性SS-OCT 数据采集器HAD-5200B-S
HAD-5200B-S 提供高速DAQ与Santec 高性能扫频光源兼容。重定标技术写入FPGA，用于实时OCT 图形处理。查看详情> -
OCT主控软件Inner Vision Software
VS 软件随所有IVS SS-OCT 系统提供。它包括1D，2D，3D 及成像模式，可存储为各种图形格式也可存储原始数据。所有IVS 软件功能亦可通过Santec 的SDK，利用C++/ C#/ Lab view 编程实现。查看详情> -
OCT 级干涉模组IFM
IFM100 及IFM200 是Mach-Zehnder 型干涉仪模组，通常为每个客户的OCT 系统配置而订制，可将PS-OCT 包括在内。IFM-100/200可包含诸如可见指引光、电控光学延迟线之类的功能。Santec 也可为OEM 用户订制解决方案包括Michelson 及Fizeau 干涉仪查看详情>
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