筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
 - 美国 AdValue Photonics
 - 美国 Advanced Optowave Corporation (AOC)
 - 日本 Advantest
 - 日本 Alnair Labs
 - 英国 Andor
 - 美国 Andover
 - 西班牙 Aragon Photonics
 - 日本 Artray
 - 德国 ATL Lasertech
 - 美国 Block Engineering
 - 美国 Boston Electronics
 - 美国 Bristol Instruments
 - 英国 Chromacity
 - 美国 Clark-MXR
 - 德国 CODIXX
 - 德国 Crylas
 - 美国 CrystaLaser
 - 美国 CVI
 - 瑞士 DECTRIS
 - Dualix
 - 德国 Edgewave
 - 英国 EI
 - 芬兰 ELFYS
 - 美国 Energetiq
 - 英国 ETL
 - 美国 FemtoChrome
 - 美国 HelioWorks
 - 以色列 Holoor
 - 德国 Infrasolid
 - 加拿大 INO
 - 美国 IPG Photonics
 - 美国 Judson
 - 德国 Ketek
 - 美国 Labsphere
 - 荷兰 Lambert Instruments
 - 德国 LaserComponents
 - 英国 Laser Quantum
 - 美国 LaserVision
 - 德国 Lioptec
 - 美国 LongWave Photonics
 - 美国 Mcpherson
 - 瑞士 Menhir Photonics
 - 美国 Metricon
 - 美国 Mightex
 - 美国 Modu-Laser
 - 澳大利亚 Moglabs
 - 日本 MoVU
 - 美国 Moxtek
 - 美国 OnTrak
 - 以色列 Ophir
 - 美国 Ophir-Spiricon
 - 美国 OPOTEK
 - 德国 Opsira
 - 以色列 OptiqGain
 - 美国 Opto Diode
 - 美国 OSI
 - 英国 Oxford Instruments
 - 美国 Pacific Lasertec
 - 法国 PHASICS
 - 英国 Photek
 - 美国 Photodigm
 - 英国 PhotonicScience
 - 美国 Photo Research
 - 法国 Pleiades
 - 美国 PRO
 - 德国 Proxivision
 - 法国 Quantel
 - 美国 Quantel-Bigsky
 - 美国 Radiant
 - 西班牙 Radiantis
 - 以色列 Raicol
 - 德国 RGB Laser Systems
 - 日本 Santec
 - 加拿大 Sciencetech-Inc
 - 英国 Sens-Tech
 - 德国 Sill Optics
 - 荷兰 Spectral Industries
 - 美国 SRS
 - 美国 StellarNet
 - 美国 Swamp optics
 - 美国 Uptek Solutions
 - UPRtek
 - 德国 VALO INNOVATIONS
 - 美国 Varex
 - 美国 Vertilon
 - 丹麦 Viso
 - 美国 Vision Research
 - Zolix
 - 日本 柯尼卡美能达
 - 爱尔兰 Eblana
 - 英国 Novanta-Cambridge Technology
 - 德国 Xiton Photonics
 - 日本 大塚电子
 - 荧飒光学
 - 先锋科技
 
行业
- 天文相机/探测器校准
 - 成像
 - 信号同步
 - 时间分辨测量
 - 光学授时与同步
 - 可见光成像
 - X射线成像/光谱
 - 壁画文物颜色检测
 - LIBS
 - 微弱信号处理
 - 自适应光学
 - 光度/辐射度测试
 - 亮度及光谱测试
 - 频率计数
 - 溶液粒径分析
 - 量子效率测试
 - 时间分辨测量
 - 激光器/光梳测量
 - 光梳
 - 量子光学
 - 激光测量
 - 原子冷却
 - 时间分辨光谱
 - 时间分辨测量
 - 光谱诊断
 - VMI
 - 物理影像
 - 特种激光镜片
 - 太赫兹器件
 - 自适应光学
 - 超快激光器
 - 硬X射线诊断
 - 软X射线诊断
 - 泵浦源
 - 超快激光测试
 - 激光测量
 - 高能辐射测试
 - 时间分辨光谱
 - 真空分析
 - 时间分辨测量
 - LIBS
 - 时间分辨光谱
 - 真空分析
 - 溶液粒径分析
 - 量子效率测试
 - 薄膜膜厚测量
 - 时间分辨测量
 - VMI
 - 激光闪光光解
 - 量子点 光学测试
 - 红外光谱测试
 - 时间分辨测试
 - 时间分辨光谱
 - 真空分析
 - 溶液粒径分析
 - 薄膜膜厚测量
 - 拉曼测量
 - 荧光寿命
 - 反射光谱
 - 太赫兹光谱与成像
 - 激光测量
 - LIBS
 - XRF测试
 - LIBS/荧光/拉曼/
 - 吸收光谱
 - 光谱测试
 - 土壤中二氧化碳测试
 - TOC有机总碳测试
 - 气体分析仪
 - 矿石分选
 - 生物拉曼
 - 精准农业/资源勘探
 - 溶液粒径分析
 - 量子效率测试
 - PIV
 - 激光雷达反射测试
 - 激光雷达生产和检测位移机构
 - 轿车整车热成像检测方案
 - 汽车照明检测方案
 - 汽车整车光学测试系统
 - 仪表盘测试
 - 车灯照度测试
 - 车灯仪表盘测试
 - 火车轮毂温度测试仪
 - 膜厚测试仪
 - HUD
 - PIV
 - 激光雷达
 - 激光防护
 - 激光波前测试
 - 激光器光路调整
 - 激光显示测试
 - 波长测试
 - FBG刻写
 - 光通信器件生产和检验系统
 - GPS/北斗授时
 - 光源测试
 - 光学A/D
 - 器件网络测试
 - 微量气体分析
 - 无损检测
 - AOI 自动光学检测
 - EUV器件检测
 - 失效分析
 - EUV光源检测
 - 新风系统二氧化碳检测
 - 手机屏幕光学性能评价
 - 电视屏幕自动光学测试
 - 3C产品生产和检测的自动化装置
 - 摄像头平场校准
 - 传感器量子效率测试
 - 手机镜头/传感器测试
 - VCSEL测试
 - 数字影院光学测试
 - VR/AR 测试
 - 摄像头测试
 - 无损检测
 - AOI 自动光学检测
 - 激光防护
 - TOC有机总碳测试
 - VOC有害气体检测
 - 食品异物检测
 - 拉曼测量
 - 地物高光谱
 - 环境检测
 - 大气雷达/LIBS/环境质谱
 - 荧光检测
 - 激光雷达
 - TDLAS
 - 溶液粒径分析
 - 薄膜膜厚测量
 - 生化分析
 - 气体分析
 - 血氧测试仪
 - 呼吸末CO2、麻醉气体
 - 多通道光子数据采集
 - 血球分析
 - 激光医美
 - 光声光谱与成像
 - 化学发光测试仪
 - 医用照明测试
 - 医学光度色度测试
 - 拉曼测量
 - 荧光寿命
 - 生物自荧光
 - 生物荧光拉曼
 - 光镊/ 生物荧光
 - 光束整形/涡旋光
 - CARS/SRS
 - 眩光测试
 - 光源频闪测试
 - 显微成像
 - 血管成像
 - OCT
 - 光声光谱与成像
 - 食品中异物检测
 - 溶液粒径分析
 - 薄膜膜厚测量
 - 拉曼测量
 - 近红外光谱测试
 - 火灾探测
 - X射线安检
 - 拉曼测量
 - 人体/行李违禁物检测
 - 高光谱成像校准
 - 深空成像系统标定
 - 遥感高光谱成像
 - 杂散光吸收
 - 液晶可调滤光片
 - 空间光通讯
 - 空间观测与LIDAR
 - 遥感镜头杂散光模拟测试
 - 太阳/星光光谱模拟
 - 遥感辐射度标定
 - 激光雷达
 - PLIF
 - 燃烧诊断
 - PLIF/PIV
 - PIV
 - 时间频率标定
 - 光梳
 - 原子冷却
 - 照度计量
 - 光度色度计量
 - 膜厚测试
 - 贴膜测试
 - 光学测试设备
 - 激光加工
 - 摄像机镜头测量
 - ACR环境对比度测试
 - Trulume显示屏测试
 - 摄像头平场校准系统
 - 传感器量子效率测试系统
 - 准直均匀光源
 - 分布光度计
 - VR/AR 测试系统
 - IVL&EQE光学测试系统
 - LCD显示屏光学测试系统
 - 光源照度测试
 - 自动光学检测
 - 元件数量封装清点
 - 微量气体分析
 - 无损检测
 - 显微成像
 - CARS/SRS
 - Tokamak诊断
 - 超快光谱学
 - 光谱激发
 - LIBS
 - 生物自荧光
 - 太阳能电池片检测
 - 超快光谱学/超快加工
 - PLIF/LIF
 - LII
 - 发动机燃烧诊断
 - 气体检测
 - 光束品质分析
 - 激光功率能量测试
 - FBG刻写
 - 表面形貌成像
 - Wafer检测
 - AR/VR 设备测量
 - 紫外切割
 - 超快微加工
 - 显示屏测试
 - 激光安全认证
 - 镀膜监控
 - 玻璃/表面检测
 - 制程监控
 - LED显示屏测试
 - 薄膜测试
 - 光源及灯具测试
 - 表面形貌检测
 - 激光防护
 - 激光剥离
 - 面板修补
 - 显示屏测试
 - 分束与光斑整形
 - 激光焊接匙孔监测
 - 超快微加工
 - 自动光学检测
 - 激光加工
 - 激光加工在线监测
 
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SR540光学斩波器
介绍: 光学斩波器SR540 与锁相放大器搭配起来使用,可组成一套光谱的微弱光信号检测系统,也可以用在电学、磁学等方面测试中。品牌: 美国 SRS型号: SR540 - 
                            

狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2
介绍: NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪, 源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪,在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR可提供完备的光束分析解决方案。品牌: 美国 Ophir-Spiricon型号: NanoScan 2 - 
                            

镀磷光材料CCD相机
介绍: 硅材料CCD 相机的长波截止波长为1100nm (对于较强的光可响应至1300nm)。通过在芯片表面镀上转换磷光材料,能够探测光通讯广泛使用的1550nm 左右激光。品牌: 美国 Ophir-Spiricon型号: SP920s-1550,LT665-1550 - 
                            

近红外InGaAs 相机
介绍: 近红外InGaAs 相机主要特点:量子效率高,暗电流小,灵敏度高,曝光时间范围宽。品牌: 美国 Ophir-Spiricon型号: SP1203,SP1201,XC-130 - 
                            

脉冲激光波长计-871
介绍: 871 系列脉冲激光波长计的特点是即可以测量连续激光也可以测量脉冲激光,可达±0.2pm 的绝对准确度,既可以测脉冲激光波长也可以测连续激光。除了激光生产研发单位有广泛应用外,做高精细光谱的科研用户也有广泛应用,包括高精细光谱实验室确认严格激发波长如定标染料激光器、窄线宽OPO 激光器的真实波长;全天候激光雷达定标激光中心波长位置等应用。测试范围涵盖375-2500nm 常用波段,内置校准用HeNe 激光实时校准波长品牌: 美国 Bristol Instruments型号: 871系列 - 
                            

光束分析软件BeamGage
介绍: Spiricon 专业光斑分析软件历经了LBA、Beamstar、BeamGage 三个阶段。每一个版本均继承了上一代精准的测试分析能力以及友好的用户截面,同时又随相机硬件技术、电脑硬件技术以及激光器的发展,不断提供更高的性能和更丰富的功能。品牌: 美国 Ophir-Spiricon型号: BeamGage 

































































































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