快速扫描测量系统
简 述：
快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件，为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台。系统同时采集可调谐光源的输出功率及DUT 透过的光功率作实时参比，获取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩阵方法）。
品 牌：
日本 Santec
产品型号：
- 快速扫描测量系统
快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件，为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台。系统同时采集可调谐光源的输出功率及DUT 透过的光功率作实时参比，获取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩阵方法）。
性能优势
• 实时功率参考：高精度的WDL/PDL 测试
- 功率可重复性<±0.02dB
- PDL 可重复性＜ ±0.01dB
• 缩放运算：高波长精度/ 节省测量时间
• 支持多通道测量
• 支持图形介面软件及编程接口（DLL）
主要应用
• 器件和模块光学特性测试：
- 可调谐滤波器，插入器，FBG，
耦合器，分光器，隔离器，开关 .....
- WSS 及波长阻断器
- DWDM 器件
• 硅光子材料表征，包括微腔环形谐振器
• 光谱
• 干涉测量
配置
多站测试
测试示例
多站测试
多站测试中，TSL、PCU与MCU 构成一个服务中心，分发触发信号及光束到不同的测试站。每个测试站包括功率计和客户端PC。在运行过程中，TS持续的扫频，使得每个测试站可以独立而并行地工作。多站测试架构极大提升了高精度测量与分析的效率。
测试示例
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