hiXAS 集成式XAS 解决方案
- XANES analysis
- EXAFS analysis
集成式 XAS 解决方案
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基于实验室的一站式EXAFS 和 XANES 系统
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可实现同步辐射级别的谱图
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极高的信噪比
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最宽可达 1 keV 的带宽
德国 hp spectroscopy hiXAS 提供完整的实验室级解决方案，用于扩展 X 射线吸收精细结构（EXAFS）和 X 射线吸收近边结构（XANES）测量。系统采用紧凑设计，将X射线管光源、高分辨率光谱仪和混合探测器集成在一起，并配备软件套件用于仪器控制和数据分析。
其谱图质量可媲美同步辐射测量，因此无需再进行繁琐的机时申请与等待。
X 射线管光源与光谱仪覆盖 4–30 keV 能量范围，包括 3d 过渡金属的 K 吸收边。采用优化的 HAPG von Hamos 光谱仪结构，可实现极高的信噪比。因此，即使分析物浓度低至几个重量百分比也可进行测量。该系统兼具高效率与高光谱分辨率，在整个吸收边范围内分辨率可达 E/ΔE = 4000 且保持稳定。
hiXAS 还提供定制版本。对于更低能区的应用，请参考 proXAS。欢迎联系我们以讨论您的具体应用需求。
hiXAS 可用于 EXAFS 和 XANES 测量的元素范围。即使是分析物浓度仅为几个wt%的稀释样品，也可以在几分钟内完成测量。
XANES analysis
桌面型 XAS 系统
· X 射线吸收边附近的结构分析
· 极高灵敏度.可分析物浓度低至 1 wt%
· 样品全自动批量处理，无需手动更换晶体（分析晶体）
媲美同步辐射的谱图质量
· 可精确重现同步辐射测量的光谱特征
· 高分辨本领达 4000
· 带宽最高可达 600 eV
· 空间分辨检测能力，可用于评估样品均匀性
原位测量
· 快速多色（多能）采集技术支持原位操作条件下测量，即使在长时间实验也同样适用。
· 为复杂样品环境（如气体供应、加热、低温冷却等）提供充足的样品空间。
· 提供两个接口，支持样品装置的长期使用。
来自 hixAS 的 10 μm 厚铜箔 xANES 谱（分辨本领E/ΔE = 4000 ，蓝色曲线）与同步辐射测量结果（APS 光束线 13-ID-E ，分辨本领 E/ΔE = 8000，橙色曲线）的对比。
两者高度一致，充分证明了 hixAS 的高质量测量性能。测量时间为 8 分钟。
文献来源：J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)
用于合成气转化的纳米颗粒催化剂的氧化态分析。通过引入 M" 和 Fe 作为助剂，以调控反应的选择性。
尽管 M" 含量仅为 1.4 wt% ，但 hixAS 测量结合参考谱图对比，仍能够清晰判定其氧化态。
文献来源：Faraday Discuss. 208, 207 (2018)
EXAFS analysis
桌面型 XAS 系统
· 在吸收边扩展范围内进行结构分析
· 提供原子间距及近邻配位数等信息
· 较大带宽，高通量
媲美同步辐射的谱图质量
· 高效率 HAPG 晶体提供实现EXAFS 所需的高光子通量（>107 ph/s）
· 极限宽带达 1000 eV
· 高分辨本领达 1800，且在整个能量范围内保持稳定
原位测量
· 即使是在持续数天的原位测量，仍然可以在大能量范围的非扫描式采集后提供稳定的测量结果
· 非等间距谱数据处理可在大波矢范围内提升信噪比。
hiXAS 对 10 μm 铜箔的 XAFS 测量示例，对比实验室系统（红线）与同步辐射（黑线）结果。左图为 EXAFS 振荡，右图为对应的傅里叶变换结果。
所有峰位均被精确重现。测量时间为 3 分钟。
文献来源：J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)
hiXAS 可用于 EXAFS 和 XANES 测量的主要元素范围。对于更高能量的吸收边，可通过定制化系统版本进行扩展测量。
技术参数
13810233784
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