集成式 NEXAFS 系统
简 述：
proXAS 是市场上首个可在实验室内实现 NEXAFS 测量的系统，使元素分析的指纹识别能够在本地完成，获得快速且准确的结果。
该系统结合了高可靠性的激光驱动 XUV 光源与定制化光谱仪，其分辨本领高达 1900。能量范围覆盖 200–1200 eV，可对多种元素的 K 边进行测量，例如 C、N、O、Ca、K、Ti。
品 牌：
产品型号：
- proXAS
德国 hp spectroscopy 集成式 NEXAFS 系统
特点
· 首款集成式台式 NEXAFS 光谱解决方案
· 无需申请并等待同步辐射机时
· 适用于地质、生物及材料研究的化学态分析
· 快速多色（多能）采集
同步辐射级别的谱图
· 能量范围 200 – 1200 eV
· 分辨本领高达 1900
· 极高的表面灵敏度
· 可获取分子轨道、氧化态及配位数等信息
· 配备光谱分析软件套件
应用
· 有机材料分析，例如脂质膜、腐殖酸、聚合物薄膜等，尤其适用于碳 K 吸收边区域
· 对 C、N、O、Ca、K、Ti等元素进行表面敏感的化学分析
聚酰亚胺薄膜（厚度 t = 200 nm）在碳 K 吸收边处的 NEXAFS 光谱，由台式系统测量并对 60 个脉冲进行平均。插图：用于对比的同步辐射测量 NEXAFS 光谱。（数据由 IFNANO 的 K. Mann 博士提供）
采用高可靠性的激光等离子体产生的 XUV 光源。能量范围200–1200eV，重复频率25Hz。
产品指标
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光源 |
无碎屑激光等离子体 XUV 光源 |
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能量范围 |
200-1200eV / 1-6nm |
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重复频率 |
25Hz |
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光源稳定性 |
±1.5% |
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光谱仪 |
像差校正的平场光谱仪 |
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分辨能力 |
1900 |
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样品室 |
转塔式样品位，支持多样品安装 |
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尺寸 |
1.5m x 1.0m |
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软件 |
集成化系统控制 多种光谱校准与数据分析功能 |
13810233784
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