聚焦晶体材料 | TEO 先锋泰坦与您相约第二十届全国晶体生长与材料学术会议
第二十届全国晶体生长与材料学术会议定于2026年8月22-25日在山东省济南市南郊宾馆召开。届时，北京先锋泰坦科技有限公司（简称：TEO先锋泰坦）将携带PSEL劳厄单晶取向测试系统、棱镜耦合仪系统等产品参会，诚邀行业同仁莅临交流近年来晶体材料相关领域的最新研发成果。
关于会议
本次会议由中国硅酸盐学会晶体生长与材料分会和中国硅酸盐学会主办，由山东大学承办。同时会议同期将举办晶体应用和产业论坛，晶体及相关设备展览，诚邀国内外相关领域高校、科研院所、企事业单位积极参展，现场展示最新科研成果、技术产品与装备工艺，促进学术交流、技术对接与产业合作。
分会内容：
第1分会 晶体生长理论与AI应用
第2分会 非线性光学晶体
第3分会 激光晶体
第4分会 半导体晶体
第5分会 闪烁、压电、铁电和铁性晶体
第6分会 人工微结构、二维材料和新概念晶体
第7分会 生物医用晶体材料
第8分会 纳米晶体及其前沿交叉应用
第9分会 有机光电子分子与晶体材料
第10分会 晶体生长技术与装备
第11分会 量子晶体与光芯片
第12分会 人工晶体与宝石
会议时间：
2026年8月22-25日
会议地点：
山东省济南市南郊宾馆
展品亮点
1. PSEL劳厄单晶取向测试系统
主要技术指标：
• PSEL 软件定向误差低至 0.05 度；
• 多晶硅片二维定向mapping；
• 大批量样品筛选；
• 超20kg 重负荷样品定位
• 超大行程样品台可选，用于“燃机叶片”等测试；
• 工厂接收客户需求定制
2. 真空紫外透反系统 ultraLYZE VUV
主要技术指标：
• 波长范围：120 350nm
• 波长精度：0.05nm
• 光谱带宽：1 10nm
• 测量精度：＜0.5%/ 小时
• 入射角：0° 70°
• 反射角：7° 180°
• 滤光片：可选配件
• 偏振片：可选配件
• 测量光斑：约 8 mm（可提供＜300 μm 光斑版本）
• 样品室：完全可定制，可集成样品传送系统
• 工作气压：＜10⁻⁶ mbar。
3. 棱镜耦合仪系统
主要技术指标：
• 折射率精度：±0.0005；
• 折射率分辨率：±.0.0003；
• 高分辨可至 ±.00005；
• 厚度精度： ±(0.5% + 5 nm)；
• 厚度分辨率： ±0.3%；
• 折射率测量范围：1.0 3.35；
• 操作波长：632.8nm,1310nm,1550nm；
• 以及其他可见光 / 近红外光；
• 可测薄膜类型及厚度范围；
• 测量折射率随温度的变化 dn/dT；
• 光波导损耗；
• 双折射 / 各向异性测量。
从晶体定向到光学参数表征，TEO 先锋泰坦持续深耕光电与晶体材料检测领域，为国内科研与工业用户提供元器件、测试设备及整套技术解决方案。本次会议期间，欢迎从事晶体生长、衬底加工、光学材料研究的专家学者与工程技术人员前往展台，现场观摩设备演示，与技术工程师交流测试方案。
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