筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
- 美国 AdValue Photonics
- 日本 Advantest
- 日本 Alnair Labs
- 英国 Andor
- 美国 Andover
- 西班牙 Aragon Photonics
- 日本 Artray
- 德国 ATL Lasertech
- 美国 Block Engineering
- 美国 Bristol Instruments
- 美国 Clark-MXR
- 德国 CODIXX
- 德国 Crylas
- 美国 CrystaLaser
- 美国 CVI
- 瑞士 DECTRIS
- 德国 Edgewave
- 英国 EI
- 芬兰 ELFYS
- 美国 Energetiq
- 英国 ETL
- 美国 FemtoChrome
- 以色列 Holoor
- 德国 Infrasolid
- 加拿大 INO
- 美国 IPG Photonics
- 美国 Judson
- 德国 Ketek
- 美国 Labsphere
- 荷兰 Lambert Instruments
- 德国 LaserComponents
- 英国 Laser Quantum
- 美国 LaserVision
- 德国 Lioptec
- 美国 LongWave Photonics
- 瑞士 Menhir Photonics
- 美国 Metricon
- 美国 Mightex
- 澳大利亚 Moglabs
- 日本 MoVU
- 美国 Moxtek
- 美国 OnTrak
- 以色列 Ophir
- 美国 Ophir-Spiricon
- 美国 OPOTEK
- 美国 Opto Diode
- 美国 OSI
- 英国 Oxford Instruments
- 美国 Pacific Lasertec
- 法国 PHASICS
- 英国 Photek
- 美国 Photodigm
- 英国 PhotonicScience
- 美国 Photo Research
- 美国 PRO
- 法国 Quantel
- 美国 Quantel-Bigsky
- 西班牙 Radiantis
- 以色列 Raicol
- 德国 RGB Laser Systems
- 日本 Santec
- 加拿大 Sciencetech-Inc
- 英国 Sens-Tech
- 德国 Sill Optics
- 美国 SRS
- 美国 StellarNet
- 美国 Swamp optics
- 美国 Uptek Solutions
- UPRtek
- 美国 Varex
- 美国 Vertilon
- 丹麦 Viso
- 美国 Vision Research
- Zolix
- 美国 Sydor Technologies
- 澳大利亚 Redback Systems
- 意大利 TEDIEL
- 韩国 SLI
- 德国 hp spectroscopy
- 英国 Skylark Lasers
- 瑞士 Glucoloop
- 美国 Spectro-UV
- 日本 柯尼卡美能达
- 爱尔兰 Eblana
- 英国 Novanta-Cambridge Technology
- 德国 Xiton Photonics
- 日本 大塚电子
行业
- 天文相机/探测器校准
- 成像
- 信号同步
- 时间分辨测量
- 光学授时与同步
- 可见光成像
- X射线成像/光谱
- 壁画文物颜色检测
- LIBS
- 微弱信号处理
- 自适应光学
- 光度/辐射度测试
- 亮度及光谱测试
- 频率计数
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 时间分辨测量
- 激光器/光梳测量
- 光梳
- 量子光学
- 激光测量
- 原子冷却
- 时间分辨光谱
- 时间分辨测量
- 光谱诊断
- VMI
- 物理影像
- 特种激光镜片
- 太赫兹器件
- 自适应光学
- 超快激光器
- 硬X射线诊断
- 软X射线诊断
- 泵浦源
- 超快激光测试
- 激光测量
- 高能辐射测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 时间分辨测量
- LIBS
- 时间分辨光谱
- 真空分析
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- 时间分辨测量
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- 红外光谱测试
- 时间分辨测试
- 时间分辨光谱
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- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
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- 太赫兹光谱与成像
- 激光测量
- LIBS
- XRF测试
- LIBS/荧光/拉曼/
- 吸收光谱
- 光谱测试
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- 矿石分选
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- 精准农业/资源勘探
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
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- 激光雷达生产和检测位移机构
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- 汽车整车光学测试系统
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- 车灯仪表盘测试
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- 道路监控系统
- 膜厚测试仪
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- PIV
- 激光雷达
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- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- EUV器件检测
- 失效分析
- EUV光源检测
- 手机屏幕光学性能评价
- 电视屏幕自动光学测试
- 3C产品生产和检测的自动化装置
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- 传感器量子效率测试
- 手机镜头/传感器测试
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- 数字影院光学测试
- VR/AR 测试
- 摄像头测试
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- 激光防护
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- 大气雷达/LIBS/环境质谱
- 荧光检测
- 激光雷达
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- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
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- 光声光谱与成像
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- 薄膜膜厚测量
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- 拉曼测量
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- 遥感辐射度标定
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- PIV
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- 激光加工
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- 摄像头平场校准系统
- 传感器量子效率测试系统
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- VR/AR 测试系统
- IVL&EQE光学测试系统
- LCD显示屏光学测试系统
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- 元件数量封装清点
- 微量气体分析
- 无损检测
- 显微成像
- CARS/SRS
- Tokamak诊断
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- 太阳能电池片检测
- 超快光谱学/超快加工
- PLIF/LIF
- LII
- 发动机燃烧诊断
- 传感器量子效率测试
- 气体检测
- 光束品质分析
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- FBG刻写
- 表面形貌成像
- Wafer检测
- AR/VR 设备测量
- 紫外切割
- 超快微加工
- 显示屏测试
- 激光安全认证
- 镀膜监控
- 玻璃/表面检测
- 制程监控
- LED显示屏测试
- 薄膜测试
- 光源及灯具测试
- 表面形貌检测
- 激光防护
- 激光剥离
- 面板修补
- 显示屏测试
- 分束与光斑整形
- 激光焊接匙孔监测
- 超快微加工
- 自动光学检测
- 激光加工
- 激光加工在线监测
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平衡探测器BPD-200
介绍： 平衡探测器输出一个与两路光信号之间的差值有关的信号，是扫频OCT 的常规探测器，可避免激光器功率起伏导致的共模噪声。 Santec BPD-200 为OCT 专门设计，具备很低的背反射和平坦的平衡响应，可减轻不期望的伪图像。BPD-200 在检测两路位相相反的信号时灵敏度为3dB，可在大多数场合用在外差测量系统品牌： 日本 Santec型号： BPD-200 -
FMCW LiDAR-InnerVision
介绍： InnerVision FMCW LiDAR 采用高速扫频、单纵模1060nm 光源HSL-1。借助光源单纵模、超长相干距离的特性，可实现长距离3-D 形貌绘制品牌： 日本 Santec型号： FMCW LiDAR-InnerVision -
3-D 形貌仪OPS-1000
介绍： OPS-1000 系列扫频式相干成像的3-D 形貌仪整合了快扫描可调谐激光技术、干涉计量技术，提供单光束、高灵敏度、非接触的光学方法形貌测量。OPS-1000 可为各种类型形状、材质、颜色及表面形状的物体提供高速、高精度、无接触的形貌测量功能。品牌： 日本 Santec型号： OPS-1000 -
扫频OCT系统IVS
介绍： VS 系列组合式的扫频OCT 系统提供完整功能，同时可以灵活地调整配置，可用于医学、工业等领域宽范围的应用。可选择根据应用调整各组件的配置，以优化成像速度，分辨率，成像范围及深度。系统提供图形界面的软件，可进行扫描控制、3D 图形显示、切面显示等。可选API 用于集成至其他设备或进行自动化图形处理。支持软件、硬件订制。品牌： 日本 Santec型号： IVS -
OCT 快速扫频光源HSL
介绍： 基于Santec 领先的VCSEL、ECDL、MEMS技术，提供1060nm、1310nm共四种类型的快速扫频光源，满足不同领域OCT设备的需要。品牌： 日本 Santec型号： HSL -
光学滤波器及多通道MUX/ DeMUX 滤波模组
介绍： • 基于MEMS 的可调谐滤波器MTF-1 • 2 口在线滤波器OFM-15 • 3 口Add/ Drop 滤波模块 • 多通道MUX/ DeMUX 模块 • 3 口Add/ Drop CWDM 模块 • CWDM MUX/ DeMUX 模块 • 紧凑型CWDM MUX/ DeMUX 模块品牌： 日本 Santec型号： MUX,DeMUX
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