筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
- 美国 AdValue Photonics
- 日本 Advantest
- 日本 Alnair Labs
- 英国 Andor
- 美国 Andover
- 西班牙 Aragon Photonics
- 日本 Artray
- 德国 ATL Lasertech
- 美国 Block Engineering
- 美国 Bristol Instruments
- 美国 Clark-MXR
- 德国 CODIXX
- 德国 Crylas
- 美国 CrystaLaser
- 美国 CVI
- 瑞士 DECTRIS
- 德国 Edgewave
- 英国 EI
- 芬兰 ELFYS
- 美国 Energetiq
- 英国 ETL
- 美国 FemtoChrome
- 以色列 Holoor
- 德国 Infrasolid
- 加拿大 INO
- 美国 IPG Photonics
- 美国 Judson
- 德国 Ketek
- 美国 Labsphere
- 荷兰 Lambert Instruments
- 德国 LaserComponents
- 英国 Laser Quantum
- 美国 LaserVision
- 德国 Lioptec
- 美国 LongWave Photonics
- 瑞士 Menhir Photonics
- 美国 Metricon
- 美国 Mightex
- 澳大利亚 Moglabs
- 日本 MoVU
- 美国 Moxtek
- 美国 OnTrak
- 以色列 Ophir
- 美国 Ophir-Spiricon
- 美国 OPOTEK
- 美国 Opto Diode
- 美国 OSI
- 英国 Oxford Instruments
- 美国 Pacific Lasertec
- 法国 PHASICS
- 英国 Photek
- 美国 Photodigm
- 英国 PhotonicScience
- 美国 Photo Research
- 美国 PRO
- 法国 Quantel
- 美国 Quantel-Bigsky
- 西班牙 Radiantis
- 以色列 Raicol
- 德国 RGB Laser Systems
- 日本 Santec
- 加拿大 Sciencetech-Inc
- 英国 Sens-Tech
- 德国 Sill Optics
- 美国 SRS
- 美国 StellarNet
- 美国 Swamp optics
- 美国 Uptek Solutions
- UPRtek
- 美国 Varex
- 美国 Vertilon
- 丹麦 Viso
- 美国 Vision Research
- Zolix
- 英国 Skylark Lasers
- 瑞士 Glucoloop
- 美国 Spectro-UV
- 日本 柯尼卡美能达
- 爱尔兰 Eblana
- 英国 Novanta-Cambridge Technology
- 德国 Xiton Photonics
- 日本 大塚电子
- 先锋科技
行业
- 天文相机/探测器校准
- 成像
- 信号同步
- 时间分辨测量
- 光学授时与同步
- 可见光成像
- X射线成像/光谱
- 壁画文物颜色检测
- LIBS
- 微弱信号处理
- 自适应光学
- 光度/辐射度测试
- 亮度及光谱测试
- 频率计数
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 时间分辨测量
- 激光器/光梳测量
- 光梳
- 量子光学
- 激光测量
- 原子冷却
- 时间分辨光谱
- 时间分辨测量
- 光谱诊断
- VMI
- 物理影像
- 特种激光镜片
- 太赫兹器件
- 自适应光学
- 超快激光器
- 硬X射线诊断
- 软X射线诊断
- 泵浦源
- 超快激光测试
- 激光测量
- 高能辐射测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 时间分辨测量
- LIBS
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 薄膜膜厚测量
- 时间分辨测量
- VMI
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- 量子点 光学测试
- 红外光谱测试
- 时间分辨测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
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- 激光测量
- LIBS
- XRF测试
- LIBS/荧光/拉曼/
- 吸收光谱
- 光谱测试
- 土壤中二氧化碳测试
- TOC有机总碳测试
- 气体分析仪
- 矿石分选
- 生物拉曼
- 精准农业/资源勘探
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
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- 激光雷达生产和检测位移机构
- 轿车整车热成像检测方案
- 汽车照明检测方案
- 汽车整车光学测试系统
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- 车灯照度测试
- 车灯仪表盘测试
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- 膜厚测试仪
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- PIV
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- 波长测试
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- 无损检测
- AOI 自动光学检测
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- 失效分析
- EUV光源检测
- 手机屏幕光学性能评价
- 电视屏幕自动光学测试
- 3C产品生产和检测的自动化装置
- 摄像头平场校准
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- 手机镜头/传感器测试
- VCSEL测试
- 数字影院光学测试
- VR/AR 测试
- 摄像头测试
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- 激光防护
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- 大气雷达/LIBS/环境质谱
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- 激光雷达
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- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
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- 呼吸末CO2、麻醉气体
- 多通道光子数据采集
- 血球分析
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- 化学发光测试仪
- 医用照明测试
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- 拉曼测量
- 荧光寿命
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- 生物荧光拉曼
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- 光声光谱与成像
- 食品中异物检测
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- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
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- 火灾探测
- X射线安检
- 拉曼测量
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- 深空成像系统标定
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- 空间观测与LIDAR
- 遥感镜头杂散光模拟测试
- 太阳/星光光谱模拟
- 遥感辐射度标定
- 激光雷达
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- 燃烧诊断
- PLIF/PIV
- PIV
- 时间频率标定
- 光梳
- 原子冷却
- 照度计量
- 光度色度计量
- 膜厚测试
- 贴膜测试
- 光学测试设备
- 激光加工
- 摄像机镜头测量
- ACR环境对比度测试
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- 摄像头平场校准系统
- 传感器量子效率测试系统
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- VR/AR 测试系统
- IVL&EQE光学测试系统
- LCD显示屏光学测试系统
- 光源照度测试
- 自动光学检测
- 元件数量封装清点
- 微量气体分析
- 无损检测
- 显微成像
- CARS/SRS
- Tokamak诊断
- 超快光谱学
- 光谱激发
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- 生物自荧光
- 太阳能电池片检测
- 超快光谱学/超快加工
- PLIF/LIF
- LII
- 发动机燃烧诊断
- 气体检测
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- 激光功率能量测试
- FBG刻写
- 表面形貌成像
- Wafer检测
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- 紫外切割
- 超快微加工
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- 镀膜监控
- 玻璃/表面检测
- 制程监控
- LED显示屏测试
- 薄膜测试
- 光源及灯具测试
- 表面形貌检测
- 激光防护
- 激光剥离
- 面板修补
- 显示屏测试
- 分束与光斑整形
- 激光焊接匙孔监测
- 超快微加工
- 自动光学检测
- 激光加工
- 激光加工在线监测
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像增强型高速相机HiCAM
介绍： HiCAM是一款针对弱光条件下的高速成像相机。其拥有1.3M芯片，可以在全画幅情况下最快帧率达到500fps捕捉清晰图像。如果减少采集画幅可以获得更高帧率品牌： 荷兰 Lambert Instruments型号： HiCAM -
多通道光电探头阵列MPA-100
介绍： MPA-100 为一台高度集成、机架安装的带尾纤光电二极管阵列。 为光功率测试提供1/10 传统光功率计的成本和体积。品牌： 日本 Santec型号： MPA-100 -
HiCAM Fluo制冷型高速荧光相机
介绍： HiCAM Fluo 是专门为荧光显微成像定制的流媒体相机系统。内部有一块1.3M像素的芯片用于高速捕捉图像。得益于像管同芯片之间的光纤耦合，相机可以在弱光条件下进行高速荧光显微成像。相机可以对像管进行制冷而改善噪声。 关键性能：品牌： 荷兰 Lambert Instruments型号： HiCAM Fluo -
多通道功率计MPM-210
介绍： MPM-210 系列为新型的多端口光功率计，非常适合测量多端口光学设备。MPM-210可以非常快的速度和高分辨率同时测量多达20 个端口（每个MPM-211 模块4 个通道）的光功率。具备高精度，高线性度，极低偏振依赖。可测量1250~1650nm 范围内-80~ +10dBm 的光功率，提供GPIB、RS232、TCP/IP 通讯介面品牌： 日本 Santec型号： MPM-210 -
高速相机Lambert HS540
介绍： Lambert HS540高速相机 HS540M和HS540S相机可用于高端科学实验，研发，机器视觉或是其它工业领域应用。该相机符合GenICam（相机通用接口）标准，可以便捷与系统做集成品牌： 荷兰 Lambert Instruments型号： Lambert HS540 -
消光比测试仪PEM-340
介绍： PEM-340 消光比测试仪提供光学元件与保偏光纤（PMF）之间的快速、精确的偏振对准功能。通过GPIB 介面可实现完全的系统集成及产线自动化。采用为二级管激光器与光纤快速对准而设计的1kHz 响应时间模拟输出功率计，可实现光纤平移/ 旋转对准的自动化控制。品牌： 日本 Santec型号： PEM-340 -
偏振光源PLS-100
介绍： Santec PLS-100 偏振光源面向偏振相关器件研发和产品线测试，提供1330nm、1550nm，高稳定功率的45dB 消光比可调节偏振光输出。典型应用包括光学元器件的偏振测试与调整，保偏光纤接头的测试与固定作业等。品牌： 日本 Santec型号： PLS-100
13810233784
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