筛选
screen品牌
- 以色列 Acktar
- 美国 AdValue Photonics
- 日本 Advantest
- 日本 Alnair Labs
- 英国 Andor
- 美国 Andover
- 西班牙 Aragon Photonics
- 日本 Artray
- 德国 ATL Lasertech
- 美国 Block Engineering
- 美国 Bristol Instruments
- 美国 Clark-MXR
- 德国 CODIXX
- 德国 Crylas
- 美国 CrystaLaser
- 美国 CVI
- 瑞士 DECTRIS
- 德国 Edgewave
- 英国 EI
- 芬兰 ELFYS
- 美国 Energetiq
- 英国 ETL
- 美国 FemtoChrome
- 以色列 Holoor
- 德国 Infrasolid
- 加拿大 INO
- 美国 IPG Photonics
- 美国 Judson
- 德国 Ketek
- 美国 Labsphere
- 荷兰 Lambert Instruments
- 德国 LaserComponents
- 英国 Laser Quantum
- 美国 LaserVision
- 德国 Lioptec
- 美国 LongWave Photonics
- 瑞士 Menhir Photonics
- 美国 Metricon
- 美国 Mightex
- 澳大利亚 Moglabs
- 日本 MoVU
- 美国 Moxtek
- 美国 OnTrak
- 以色列 Ophir
- 美国 Ophir-Spiricon
- 美国 OPOTEK
- 美国 Opto Diode
- 美国 OSI
- 英国 Oxford Instruments
- 美国 Pacific Lasertec
- 法国 PHASICS
- 英国 Photek
- 美国 Photodigm
- 英国 PhotonicScience
- 美国 Photo Research
- 美国 PRO
- 法国 Quantel
- 美国 Quantel-Bigsky
- 西班牙 Radiantis
- 以色列 Raicol
- 德国 RGB Laser Systems
- 日本 Santec
- 加拿大 Sciencetech-Inc
- 英国 Sens-Tech
- 德国 Sill Optics
- 美国 SRS
- 美国 StellarNet
- 美国 Swamp optics
- 美国 Uptek Solutions
- UPRtek
- 美国 Varex
- 美国 Vertilon
- 丹麦 Viso
- 美国 Vision Research
- Zolix
- 英国 Skylark Lasers
- 瑞士 Glucoloop
- 美国 Spectro-UV
- 日本 柯尼卡美能达
- 爱尔兰 Eblana
- 英国 Novanta-Cambridge Technology
- 德国 Xiton Photonics
- 日本 大塚电子
- 先锋科技
行业
- 天文相机/探测器校准
- 成像
- 信号同步
- 时间分辨测量
- 光学授时与同步
- 可见光成像
- X射线成像/光谱
- 壁画文物颜色检测
- LIBS
- 微弱信号处理
- 自适应光学
- 光度/辐射度测试
- 亮度及光谱测试
- 频率计数
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
- 时间分辨测量
- 激光器/光梳测量
- 光梳
- 量子光学
- 激光测量
- 原子冷却
- 时间分辨光谱
- 时间分辨测量
- 光谱诊断
- VMI
- 物理影像
- 特种激光镜片
- 太赫兹器件
- 自适应光学
- 超快激光器
- 硬X射线诊断
- 软X射线诊断
- 泵浦源
- 超快激光测试
- 激光测量
- 高能辐射测试
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- 真空分析
- 时间分辨测量
- LIBS
- 时间分辨光谱
- 真空分析
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- 薄膜膜厚测量
- 时间分辨测量
- VMI
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- 量子点 光学测试
- 红外光谱测试
- 时间分辨测试
- 时间分辨光谱
- 真空分析
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- 薄膜膜厚测量
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- 太赫兹光谱与成像
- 激光测量
- LIBS
- XRF测试
- LIBS/荧光/拉曼/
- 吸收光谱
- 光谱测试
- 土壤中二氧化碳测试
- TOC有机总碳测试
- 气体分析仪
- 矿石分选
- 生物拉曼
- 精准农业/资源勘探
- 溶液粒径分析
- 量子效率测试
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- 激光雷达生产和检测位移机构
- 轿车整车热成像检测方案
- 汽车照明检测方案
- 汽车整车光学测试系统
- 仪表盘测试
- 车灯照度测试
- 车灯仪表盘测试
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- 膜厚测试仪
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- PIV
- 激光雷达
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- 无损检测
- AOI 自动光学检测
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- 失效分析
- EUV光源检测
- 手机屏幕光学性能评价
- 电视屏幕自动光学测试
- 3C产品生产和检测的自动化装置
- 摄像头平场校准
- 传感器量子效率测试
- 手机镜头/传感器测试
- VCSEL测试
- 数字影院光学测试
- VR/AR 测试
- 摄像头测试
- 无损检测
- AOI 自动光学检测
- 激光防护
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- 大气雷达/LIBS/环境质谱
- 荧光检测
- 激光雷达
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- 溶液粒径分析
- 薄膜膜厚测量
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- 呼吸末CO2、麻醉气体
- 多通道光子数据采集
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- 医用照明测试
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- 生物荧光拉曼
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- 光声光谱与成像
- 食品中异物检测
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- 薄膜膜厚测量
- 拉曼测量
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- 拉曼测量
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- 太阳/星光光谱模拟
- 遥感辐射度标定
- 激光雷达
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- 燃烧诊断
- PLIF/PIV
- PIV
- 时间频率标定
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- 原子冷却
- 照度计量
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- 膜厚测试
- 贴膜测试
- 光学测试设备
- 激光加工
- 摄像机镜头测量
- ACR环境对比度测试
- Trulume显示屏测试
- 摄像头平场校准系统
- 传感器量子效率测试系统
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- VR/AR 测试系统
- IVL&EQE光学测试系统
- LCD显示屏光学测试系统
- 光源照度测试
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- 微量气体分析
- 无损检测
- 显微成像
- CARS/SRS
- Tokamak诊断
- 超快光谱学
- 光谱激发
- LIBS
- 生物自荧光
- 太阳能电池片检测
- 超快光谱学/超快加工
- PLIF/LIF
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- 发动机燃烧诊断
- 气体检测
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- 激光功率能量测试
- FBG刻写
- 表面形貌成像
- Wafer检测
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- 紫外切割
- 超快微加工
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- 玻璃/表面检测
- 制程监控
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- 薄膜测试
- 光源及灯具测试
- 表面形貌检测
- 激光防护
- 激光剥离
- 面板修补
- 显示屏测试
- 分束与光斑整形
- 激光焊接匙孔监测
- 超快微加工
- 自动光学检测
- 激光加工
- 激光加工在线监测
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OCT 快速扫频光源HSL
介绍： 基于Santec 领先的VCSEL、ECDL、MEMS技术，提供1060nm、1310nm共四种类型的快速扫频光源，满足不同领域OCT设备的需要。品牌： 日本 Santec型号： HSL -
光学滤波器及多通道MUX/ DeMUX 滤波模组
介绍： • 基于MEMS 的可调谐滤波器MTF-1 • 2 口在线滤波器OFM-15 • 3 口Add/ Drop 滤波模块 • 多通道MUX/ DeMUX 模块 • 3 口Add/ Drop CWDM 模块 • CWDM MUX/ DeMUX 模块 • 紧凑型CWDM MUX/ DeMUX 模块品牌： 日本 Santec型号： MUX,DeMUX -
光通讯专用338系列快速波长计
介绍： 338 系列光通讯激光多波长计专门为密集波分复用DWDM 应用研发与优化，工作范围1270nm - 1680nm(179 - 236THz)，O/E/S/C/L/U几乎全波段，精度高达±0.2ppm，测试速率为25Hz。品牌： 美国 Bristol Instruments型号： 338 -
光通讯专用438系列多波长计
介绍： 438 系列光通讯激光多波长计专门为密集波分复用DWDM 应用研发与优化，工作范围1000nm - 1680nm(179300THz)，O/E/S/C/L/U几乎全波段，精度高达±0.2ppm，可以在10Hz 频率下同时监测多至1000 个信道。品牌： 美国 Bristol Instruments型号： 438 -
光通讯专用在线高速激光波长计828B
介绍： 828B 高速光通讯激光波长计专门为密集波分复用DWDM 应用研发与优化，工作范围1250nm-1650nm(182240THz)，O/E/S/C/L/U 几乎全波段，精度高达±0.2ppm，在线测试速率可达1KHz。品牌： 美国 Bristol Instruments型号： 828A,828B
13810233784
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