X射线探测器Keck-PAD
简 述：
Keck-PAD 具备对单个X射线光子的探测灵敏度，是一款具有超宽动态范围和低噪声的直接型X射线探测器，可用于研究复杂材料的时间演化过程。
产品型号：
- Keck-PAD
Keck-PAD 具备对单个X射线光子的探测灵敏度，是一款具有超宽动态范围和低噪声的直接型X射线探测器，可用于研究复杂材料的时间演化过程。
Keck-PAD 能够以最高10 MHz的帧率，连续采集最多8幅图像，并具备单光子灵敏度，非常适用于不可逆或单次实验。更重要的是，8帧中的每一帧都可以单独配置和触发。图像数据在读出前存储于芯片内部，每幅图像的读出时间为1ms。曝光可通过外部同步信号触发，以配合时间分辨实验。
Keck-PAD 的满阱容量超过 103个X 射线光子/像素/帧@8keV。采用硅基探测器和碲化镉传感器，将可探测的X射线能量范围从20 keV扩展至 150 keV。
该系统由8个子模块组成，每个子模块为256 × 128像素，像素间距为150微米，整体阵列尺寸为 512 × 512 像素。可根据需求提供定制阵列尺寸。每个子模块也可独立触发，在8帧模式下实现最高10 MHz的帧率。
在8 keV 条件下，读出噪声约为 0.5光子/像素，暗电流为 2 光子/像素/秒。Keck-PAD 集成了热电制冷系统，可以将暗电流降至最低。通过以太网连接至用户PC进行控制，支持 EPICS 控制接口或Sydor专有控制接口。
X射线探测器Keck-PAD产品指标
• 传感器材料： 500 μm 厚高阻硅 或 750 μm 厚碲化镉
• 传感器格式： 由 8 个子模块组成，每个模块为 256 x 128 像素。标准探测器阵列为 512 x 512 像素格式。• 像素间距： 150 μm
• 满阱容量：~10⁴ 光子
• 读出噪声：~ 0.5 光子/像素 @ 8 keV
• 暗电流：2 光子/像素/秒 @ 8 keV
• 帧率：最高 10 MHz（针对 8 帧）
• 最小积分时间：50 ns
• 最大连续帧率：最高 1 KHz
• 能谱范围：使用硅传感器时最高 20 keV，使用碲化镉传感器时高于 20 keV
• 冷却方式：热电冷却，辅以水冷废热排出
• 物理尺寸与重量：220 x 220 x 300 mm，10 kg
• 用户界面：支持 EPICS 和/或 Sydor 专用控制界面
X射线探测器Keck-PAD 产品特点
· 帧率最高可达 10 MHz
· 采用硅（Si）或碲化镉（CdTe）传感器时可实现最高量子效率（QE）
· 可配置帧长度和帧间间隔，支持最多 8 帧的burst采集
· 满阱容量超过 103光子/像素/帧
· 模块化拼接设计支持定制化配置方案
X射线探测器Keck-PAD 主要应用
· 极端条件下利用X射线或激光的材料研究
· 冲击物理学
· 时间分辨实验
· 破坏性实验
QE曲线
图为750 μm 厚 CdTe（碲化镉）探测器与 500 μm 厚硅探测器的量子效率
产品机械尺寸
先锋泰坦已与美国 Sydor Technologies 达成官方代理合作，全面引进其X 射线探测金刚石光束监测器仪器，负责产品在中国市场的推广、销售与售后技术落地，赋能国内前沿瞬态科学实验研究。如需产品相关咨询，欢迎随时联系在线客服！
· 帧率最高可达 10 MHz
· 采用硅（Si）或碲化镉（CdTe）传感器时可实现最高量子效率（QE）
· 可配置帧长度和帧间间隔，支持最多 8 帧的burst采集
· 满阱容量超过 103光子/像素/帧
· 模块化拼接设计支持定制化配置方案
X射线探测器Keck-PAD 主要应用
· 极端条件下利用X射线或激光的材料研究
· 冲击物理学
· 时间分辨实验
· 破坏性实验
QE曲线
图为750 μm 厚 CdTe（碲化镉）探测器与 500 μm 厚硅探测器的量子效率
产品机械尺寸
先锋泰坦已与美国 Sydor Technologies 达成官方代理合作，全面引进其X 射线探测金刚石光束监测器仪器，负责产品在中国市场的推广、销售与售后技术落地，赋能国内前沿瞬态科学实验研究。如需产品相关咨询，欢迎随时联系在线客服！
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